　電流を流し電流を制御（調整）する方法は大別して二つあります。一般的には電圧調整器を使用したもの、もう一つは半導体を利用したアンプやスイッチング動作で電流を流す方法です。昔の参考書に載っているように（水）抵抗器で直接電流を調整する方法もありますが、現場での試験はスマートにはいかないでょう、もっとも磁気歪みによる電流の歪みの点からはGOODです。

　このタイプの試験機は多くのメーカーから出されていますが、電流を流す方法は下図のように実にシンプルで原始的です。電圧調整器（スライダック、ボルトスライダー、ボルトレギュレーター、ＳＤ、ＶＲ）は試験機の外観、重量からみてoutputは連続定格で20A程度までのものです。試験では50A以上の大電流を流す必要もありますが短時間であり、そのときの出力電圧は20V程度までですので自己容量の範囲内であり、連続定格50AのＳＤを使用はしていません。第一ばかでかいものになり実用的ではありません。
　実際の試験器ではこれに電流計レンジの切替ＳＷをつけたり、小電流の場合は調整が微妙で難しいので下図のように電流回路にシリースに抵抗器をいれたり、Ｒ相とＴ相の切替ＳＷをつけたり、電源ＳＷをMgSに変えてＯＣＲが接点すればOFFにしたり、ＯＣＲの形式（電流トリップ、電圧トリップ）によって接点構成を変えたりしたりと、また電圧継電器にも使えるようにさまざまな回路を付加して販売されています。
　このタイプの試験器には二つの問題があります。一つは電源の変動や歪がそのまま出力にあらわれること、それとあとで述べる試験方法にも関係してくることですが電源と出力が絶縁されていないことです。後者のほうについては電源の極性ランプを付けて電源の接地側と被試験機器の接地側を合わすようにしているようです。

　後者の問題を解決するためには電源と出力の間に絶縁ＴＲを入れることです。この場合ＶＲの一次側に入れるよりも下図のように二次側に入れるほうが合理的です。一次側に入れると100/100Vで1：1のＴＲになりますが二次側に入れると出力側は25Ｖ程度でよいのでＳＤ二次側の電圧が100Ｖまで昇圧でき、そのぶん電流が少なくてよいのでＶＲが上記のタイプより小型ですみ、ＶＲもＴＲも定格以内なのでR=0に短絡しておけば出口で50Ａ連続で流すことができサーマルリレーのように長時間の動作時間測定にも無理なく使用できます。また大電流域における磁気飽和による電流歪にも幾分有利と考えられます。欠点は重量が少し増すことですが、筆者の試験器製作・あらゆる形式のＯＣＲ試験の経験からはＶＲは５Ａ定格でも十分で出力のリード線を短く太くすれば歪を無視して（継電器のＺにもよりますが）80Ａ程度まで流すことができます。何よりの利点は電源と出力が絶縁されていることです。
　なお、この絶縁ＴＲの二次側コイルに小さい電圧のタップを出しておきＲを適当に選べば地絡継電器・漏電継電器の電流調整に便利ですし、300Ｖ程度までコイル（細くてよい）を巻き足しておけば過電圧継電器や不足電圧継電器（電圧復帰用にもう一組いるが）の試験器にもなります。上図の試験器も汎用といっているのは電圧昇圧用の絶縁（か単巻きか不明ですが）ＴＲは抱いています。

VR	山菱電機	V-130-5、V-130-10
TR	町のTR屋さん・NETでTR屋を探す・最後は自作
R	日本抵抗器・他	GR
A	横河Ｍ＆Ｉ	201309、201314、201400
ms 計	試験器メーカーの単品のものは少なく、あってもなぜか非常に高価、電子計測器メーカーの10万円以下のユニバーサルカウンタで十分で応用用途も広い。またはカウンタ用ＩＣで自作

　上記の継電器試験器で特定のメーカーのＯＣＲを小型発電機の電源で試験した場合や、特定の工場の所内電源で試験したとき、試験結果に誤差が多くでるときがあります。これは電源のひずみが原因です。それを回避するため電源に入力AC100V/出力AC100V、2kVA程度の正弦波出力コンバーターを入れて上記試験器と組み合わせるのも一つの方法ですが、入力ＡC100～200V/出力AC50A程度の（広い意味での）コンバーターで直接出力する方法があり、後者は無歪試験器として販売されています。原理からいって電源の歪は出力に全く影響しませんが、無歪といっても歪が0％ではなく低いということで正確にいえば低歪試験器です。また電源からは絶縁されています。
　その内部構成は下図のように大きく三つの部分に分かれ、これに制御回路・表示回路・ms計等の付属回路がつきます。また単器では大型になるためAC20A程度の出力のものをを2～5台必要台数を並列接続するタイプもあります。

　ＤＧＲ試験器は小出力でよいため早くから50～100Ｗ程度の厚膜混成集積回路アンプＩＣやディスクリートで組んだアナログアンプ形式が使われていますが、最近はＯＣＲも静止形になり誘導コイル形に較べ低ＶＡタイプになってきましたのでパワーも少なくてすみ、上のデジタルアンプの技術向上と相まって、低価格化・軽量化が進みＯＣＲ試験器も今後はこのタイプが多く使われるものと思われます。

発振部	アナログ式やROMに正弦波を書き込んだデジタル式もあり。周波数は50Hz、60Hzの固定だが、その周波数を中心に可変やスイープすると周波数継電器に、また2f～n倍にすると高調波過電流継電器の試験にもＯＫ、入力電源に同期した発振器もある
出力部	インバータ出力か、もしくはアナログアンプ形式であれば200Ｗ～2000Ｗほどの大電力低周波増幅器だが、効率が悪いため、今後は小型・高効率・低消費電力と三拍子揃ったＤ級スイッチングアンプが主流になるだろう
電源部	旧型の重いものはトランスを使った整流形だが、スイッチング、チョッパ形電源が主流だろう

　ここからはＯＣＲに電流を流すポイントについてですが状況は停電時の試験の場合といたします。、ＯＣＲが引出タイプであればテストプラグを差し込んでテストプラグから電流を流せばよいわけですが一般の高圧需要家では引出タイプは少なく固定式になっています。この場合どこから電流を流すのが良いか、ということを考察します。
下図はＯＣＲと代表的なＣＴ二次電流回路です。

１．Ｃ点から流すのは間違いです
　あるメーカーのＯＣＲ試験器の取説や雑誌、書籍の多くはＣＴＴの短絡片を外し、ＡＳをOFF位置にしてＣＴＴ二次側のＣ点から電流を流すようにと記載されています。試験器のＣ１端子→ＯＣＲ→ＰＦ→ｋＷ→ＡＳ→試験器のＣ２端子、と流れるわけですが、タップ５Ａの場合限時要素の試験では１０００％電流だと５０Ａの電流が整定時と時間測定時に、瞬時要素の試験では２０～６０Ａが動作試験時、整定時と時間測定時に流さなければならず、合わせて最低５回は５０Ａもの大電流を流すことになります。また普通ＯＣＲの試験では限時要素に２００～１０００％の特性も測定します。

①定格５ＡのＡＳに５０Ａの電流を流すことや、少ないとはいえ（電動機用の長時間タイプのＯＣＲでは数十秒もの２００％電流を流す場合もあります）１００％以上の電流を流すことは間違っています。ＡＳの構造は通電部分は接触式なので大電流により酸化皮膜が形成されやすくなり接触不良となりＣＴ二次側オープン事故につながります。それでなくともＡＳの接触不良事故は多く、試験で助長しているようなものです。そもそもＣＴＴはＯＣＲの試験をするためにあるわけではありません（日立ＩＣＵタイプのようにＯＣＲ試験用のＣＴＴもありますが配電盤にＡＳは付いていません）。もちろん短絡事故時にはそれ以上の電流が流れる場合もあるわけですが、瞬時電流の測定や整定に数秒も電流を流すのとは違って１秒以下の短時間です（状況によればＡＳの交換も必要です。いずれにしてもＡＳは１５年を目安に新品に交換しましょう）

②また電流ループ内に図のようにＰＦ計やkW・kWH計が入っている場合もあります。ＡＳのような接触部分はなく電流コイルなので①のような問題はなく少々電流を流しても問題はありませんが回路のインピーダンスＺが増える（普通２sqＩＶ線の配線も長い）ので、瞬時要素の試験で普通の試験器で６０Ａの電流が流れるのでしょうか、無理やり流しても正弦波のピーク付近が尖った（磁気飽和した）ひずみの多い電流になります。そのためＰＦ計やｋＷ計の電流端子をクリップで短絡される場合もあるようですが、そんな手間をかけるぐらいならＯＣＲの端子へ試験用の線を接続する方がベターです。

２．Ｄ点から電流を流すのが正しい方法です
　ＯＣＲの試験なのでＯＣＲだけに流せばよいわけで他の回路や機器に電流を流してはいけません。従がってＤポイントが正解です。ＯＣＲ以外に電流は全く流れません。この場合CTTの短絡片をを外さなくても、（すぐに磁気飽和するようなＣＴは駄目ですが）普通にはＣＴの方へは小さな励磁電流しか流れませんので,ＯＫですが、ＣＴＴの点検（弛み・接触面の状態・清掃）も必要ですので、上の図のように短絡片を外して試験を進めるのがやはり正解でしょう。また、４でも述べますが試験器の出力を電源と絶縁しておく必要もあります。

４．試験の最後にＢ点またはＡ点から電流を流して閉ループの確認をすること
　１のＣ点から流せばループ試験も兼用できると書いてある本もありますがＢ点～Ｃ点間の区間のことは無視されていますし、ＣＴＴも外したままなのでＣＴ二次閉ループの確認試験に全くなっていません。ＣＴ二次の閉ループ試験はＣＴＴを平常状態に戻してＢ点から流すのが正解です。このとき２で述べたようにＣＴ側へは電流はほとんど流れません。ついでに試験の方法にも触れておきます。

　この試験のとき問題になってくるのが最初に述べた電源の絶縁の問題です。高圧ＣＴ二次一端にはＤ種接地が施工されているので、もしＯＣＲ試験器の電源にＢ種接地が施された商用電源を使用する場合は接地側を合わさなければ電源がとんでしまいますので安全かつ速やかに試験を進めようと思えば絶縁ＴＲ付きＯＣＲ試験器が不可欠です。
　またこの試験器は連続して５０Ａ流せますのでＣＴが２５０/５Ａ程度までならＡ点から５０Ａを流せばある程度のＣＴ比の試験もできますのでＯＣＲ・ＣＴ回路の総合試験として申し分がないと思います。

３．磁気飽和・ＣＴ２次負担の試験もしましょう
　短絡で１次電流が大きくなった場合１次電流と２次電流はリニアーに変化せず磁気飽和のために比誤差が大きくなります。比誤差がー１０％になるときの１次電流をＣＴの定格１次電流で除した値を過電流定数ｎといいます。一方ＣＴ２次側にはいろんな計器が接続されて使用負担というものがあり、同じＣＴでも使用負担が半分の回路であれば過電流定数ｎは２倍として扱えたりしますので、短絡電流の計算とその回路特性を一度は測定して把握しておくことは重要なことです。簡単なチェック方法がありますのでＯＣＲ試験のついでに実施しましょう。

①　普通ループの末端にあるＡＳと電流計の振れを確認するため２．５Ａの電流を流す（注1）
②　電流計は最大値の1/2の振れになることを確認
③　ＡＳの相を切替え、Ｒ相のＣＴからではＲ相とＳ相で、Ｔ相のＣＴからではＴ相とＳ相でスムースに流れることを確認（注２）
④　ＯＣＲの始動電流程度の電流を流しＯＣＲが動作することを確認
⑤　電流トリップタイプのＯＣＲであれば、④を引き続きＯＣＲを動作させ、引外しコイルへ電流が流れることを確認する（注３）
⑥　⑤の場合ＡＳはＯＦＦ位置が望ましいが、最後にＡＳをＲ（orＳorＴ））相にしてＯＣＲ始動確認すればなお良し（注４）

(注１）普通ＯＣＲのタップは５Ａ以下なので５Ａを流すとＯＣＲが動作し、電流トリップタイプの場合は電流がトリップコイルへ流れ試験がやりにくくなるため２．５Ａを流す。
（注２）ＣＴ×２の場合
（注３）引外しコイルの動作電流を測定するのも良し。遮断器をトリップさせるのも良し。
（注４）Ｂ接点が確実に閉じているかの確認

①　ＣＴを単独にして（図のようにＣＴＴ短絡片を外して）ＣＴ２次側に電圧をかけていきＣＴ２次側から励磁する（注1）
②　電流計Ａ１を監視しながら徐々に電圧を上昇させると電流の急増点（注２）がある。その時の電圧をＤＭＭで測定（Ｖ１）
③　ＣＴＴ２次側からＯＣＲタップ値の電流を流し、その時の試験器出力の端子電圧をＤＭＭで測定する（Ｖ２）
④　Ｖ１/V2がこの回路がほぼリニアーに動作する範囲です

(注１）工場でもない限り１次側から数千Ａの大電流は流せません。
（注２）急増点を0.３Ａとか0.5Aと決めておくのがよい、この点がほぼこのＣＴ鉄芯の磁気飽和点でありＣＴの出力電圧である
（注３）100％電流を流すための電圧、ＯＣＲ自体にも磁気飽和はあるが電流電圧はリニアーと考える

三菱電機製の汎用ＣＴ
ＣＤ－４０ＫではＶ１は35～40Ｖ程度です。
Ｖ２は回路にどんな機器がぶら下がっているかによって変わりますが1～3Ｖ程度のものです。
（例）V1=37Ｖ、V2=2.5VとしますとK=37/1.5≒15となります。Kが３程度と低い場合は過電流定数ｎの大きいＣＴに交換する必要があります。

　　ユニバーサルカウンタ

周波数、周期のほかに、時間間隔、パルス幅、位相、周波数比、デューティ比等が、簡単な操作で多彩な測定ができます。

μS・nS単位のパルスで動作するので強電分野では誤作動を起こして使いにくい面があるが、入力に適当なフィルターやＤＣリレーを入れて性能ダウンを図れば時間間隔モードでms計として十分実用になります。
　